
Sick zeigt auf der diesjährigen SPS u.a. KI-unterstützte Produkte und Lösungen, wie das adaptive Lokalisierungssystem Palloc zur Deep-Learning-basierten Roboterführung. Die KI-gestützte, adaptive Lokalisierungslösung für die automatische Depalettierung mit Robotern kombiniert eine 3D-Snapshot-Kamera mit einem ab Werk vorinstallierten und vortrainierten neuronalen Netz sowie einem neuen Deep-Learning-basierten Lokalisierungsalgorithmus. Das System bietet die Möglichkeit, nahezu unbegrenzte Varianten von gestapelten Kartons auf Paletten zu lokalisieren und liefert Positionskoordinaten für eine zuverlässige und griffsichere Roboterbedienung. Das integrierte neuronale Netz umfasst bereits eine Vielzahl unterschiedlicher Kartontypen und kann bei Bedarf über eine benutzerfreundliche KI-Tool-Suite jederzeit um neue Kartonvarianten ergänzt werden.















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