3D-Matching mit Instance Segmentation für Bin Picking

3D-Matching mit Instance Segmentation für Bin Picking

Bei der präzisen Lokalisierung von Objekten in automatisierten Fertigungsszenarien helfen Deep-Learning-basierte Vision-Verfahren wie Object Detection und semantische Segmentierung. Eine Kombination der Vorteile beider Verfahren bietet Instance Segmentation. Diese nutzt die Stärken beider Methoden, um den Suchbereich des oberflächenbasierten 3D-Matchings auch in komplexen Anwendungsfällen präzise einzuschränken.

233517 MVTec Bild 1
Bild: MVTec Software GmbH

Hier geht’s zum vollständigen Fachbeitrag in der inVISION 1/2022!