Es ist wieder so weit: Der inVISION Day Metrology 2026 steht unmittelbar bevor. Am 10. Juni präsentiert inVISION bereits zum vierten Mal die neuesten Trends und Produkte auf der Online-Konferenz für Messtechnik. Sie umfasst vier Online-Sessions zu den Themen 3D Scanning, Automated Metrology, Surface Inspection sowie CT/X-Ray & NDT. Die Teilnehmerinnen und Teilnehmer erwarten spannende Präsentationen, u.a. von AT Sensors, Altimet, Bruker Alicona, Eleven Dynamic, FMT, Metubiq, Opto, Shinephi, Shining 3D, Wenzel Group und Werth Messtechnik. Besonderes Highlight ist die Expertenrunde ‚The Future of Metrology‘ mit AT Sensors, Faro/Creaform, Fraunhofer IPM, Visiconsult, Werth Messtechnik und Zeiss Industrial Quality Solutions. Die Keynote hält Prof. Dr. Jörg Seewig (RPTU) zum Thema ‚Toolbox 16610 for Surface Topography‘. Event Partner sind Control und EMVA. Die Registrierung ist kostenfrei. Die Veranstaltung findet in englischer Sprache statt. Hier geht’s direkt zu Anmeldung und Programm.
