inVISION Day Metrology 2025

Am 2. April öffnet der inVISION Day Metrology 2025 seine virtuellen Türen. Auf der digitalen Konferenz für Messtechnik und NDT gibt es 16 spannende Vorträge von Unternehmen wie Mahr, Photoneo, Protos 3D oder Zeiss. Die Themen reichen von den neuesten Trends aus dem Bereich 3D-Scanner, Inline-Metrology und Surface Metrology bis zu CT/X-Rayvon. Ein Highlight der Veranstaltung ist die Keynote ‚Unconventional Optical Metrology – New Possibilities Beyond Classical Systems‘, vom Fraunhofer IOSB. Am Ende der Konferenz findet die Diskussionsrunde ‚Virtual Clamping – The End of Physical Measurement Fixtures?‘ mit Experten von Duwe 3D, Hexagon und Eleven Dynamics statt. Zusätzlich präsentiert die EMVA im Rahmen der EMVA Innovations vier Unternehmen, die ihre neuesten Lösungen in kurzen Vorträgen vorstellen. Event Partner des inVISION Day Metrology sind die Messe Control und die EMVA. Die Möglichkeit zur kostenfreien Anmeldung finden sie hier.