Am 16. Mai 2024 findet zum zweiten Mal der inVISION Day Metrology – Digital Conference for Metrology statt. An dem Tag werden in den vier Sessions 3D-Scanner, Inline Metrology, Surface Inspection sowie CT & X-Ray aktuelle Lösungen und Produkte in zahlreichen 20-minütigen Vorträgen präsentiert. Mit API Metrology, AT Automation Technology, Heliotis, Micro-Epsilon und Nikon Metrology stehen bereits die ersten Speaker fest. Zur kostenfreien Anmeldung für die Online-Konferenz geht es hier!
Zwei Flächenportale in einem Arbeitsraum
Mit der Variante GPA der Lineareinheit Modul 160/15 von IEF-Werner lassen sich zwei Flächenportale innerhalb des gleichen Arbeitsraums betreiben.